HALT的实施过程（一）| 受试品的确定

　　高加速寿命试验（HALT：Highly Accelerated Life Testing），在有些场合也被称为高加速极限试验、高加速应力试验和可靠性增强试验，与大多数传统的可靠性试验方法不同，其目的不是为了评估产品或产品组成部分的可靠性指标，而是为了将产品可能存在的薄弱环节激发为可检测的故障（或失效），从而组织分析改进，提高产品的可靠性。试验目标不同，对于受试品（EUT）有不同的要求。可能的目标有两个，具体的试验可以有不同的侧重之处。

　　发现缺陷

　　在研发阶段的早期，发现产品的外在缺陷，改进设计并予以纠正。

　　测试裕度

　　产品的工作裕度或破坏裕度是指产品的工作极限或破坏极限与规范规定的应力之差。

　　通过HALT，可以测试出产品的工作极限和破坏极限，可以判断裕度是否满足要求；若不满足则通过采用新设计、新工艺或新材料来拓宽裕度，也可为将来批量生产开展高加速应力筛选（HASS：Highly Accelerated Stress Screening）时合理地选取筛选参数提供依据。

　　外在缺陷（Extrinsic defect）也被称为外部缺陷，是指产品在设计和生产过程中造成的缺陷或者薄弱环节，如果能经济地消除该类型缺陷将有效地提升产品的裕度。与之对应的概念是固有缺陷（Intrinsic defect），指与元器件的设计、材料、工艺和装配或封装相关的，将在元器件的设计规范所允许的条件范围内引起的缺陷。

　　HALT重点要排除的是外在缺陷，通过改进产品的设计和工艺来提升可靠性水平。至于固有缺陷，是元器件自身的缺陷，虽然也可能会暴露出来，但只要试验条件没有超出其许可范围，则应通过质量控制体系解决。

　　受试品（EUT）的选择

　　一.形态

　　选择要在产品的哪一个装配层次如电子模块、电路板卡、装置或设备、分系统或系统进行试验。在成本、周期、试验或测试手段允许的情况下，尽可能地在较低的装配层次进行，有以下好处：

　　易以采取纠正措施；

　　易以施加高应力；

　　易以监测缺陷；

　　易以采用通用试验技术。

　　二.状态

　　首先，EUT应能代表产品的质量水平；其次，对于以寻找裕度为目标的试验，宜选择经过前期HALT将产品的外在缺陷消除之后其技术状态相对稳定的产品作为EUT。技术状态频繁变化时，测定裕度的实际意义不大。

　　三.数量

　　数量应由拟进行的应力试验的数量及预期故障模式的数量来决定。从进度角度考虑，出现故障后需要进行故障分析时必须停止试验，而且并不是所有的故障都能修复，按每种试验至少保证1件EUT并且安排2～5件EUT作为整个试验备份来估计，推荐的总EUT数量为7～10件。如不能提供，在出现故障时只能暂停试验组织维修，试验进度的风险增大。从试验结果考虑，EUT数量越多，得到的故障模式将越完备，故障模式分析也将更准确，得到的裕度也越可信。

未完待续~

来源：装备质量公众号

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